学术报告会通知

1.       题目：Elucidation of Molecular Mechanisms of Plant Disease Resistance Using the Microarray Technology（利用基因芯片技术揭示植物抗病性的分子机理）

时间：11月22日上午8:00

地点：国际交流中心208会议室

2.       题目：Genetics and Application of Wheat Resistance to Stripe Rust （小麦抗条锈性遗传及   应用）

时间：11月23日上午8:00

地点：国际交流中心208会议室

报告人：美国农部小麦条锈病控制首席科学家，华盛顿州立大学教授，我校植物病理学科“111”计划海外学术大师   陈贤明博士

植保学院 国际合作与交流处

二??七年十一月二十一日